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【失效案例】燒錄不良背后的真正“內鬼”
發布時間:2020-09-09 閱讀量:655 來源:我愛方案網 作者:我愛方案網

最近,有一終端客戶向我們工程師反饋,購買的芯片發現編程燒錄不良,特委托我們工程師查明失效原因。(鑒于客戶的要求,不便透露芯片的信息)

 

針對燒錄不良的情況,通常要先排除下燒錄器或燒錄操作的問題,我們的工程師先對不良芯片進行燒錄驗證,以確認是否由客觀因素導致的問題。但結果顯示(如下圖),燒錄不良率達到30%,這已經遠超常規不良率。

 

 燒錄1.png


鑒于較高的不良率,為了進一步確認芯片的真正“問題”,需要對其具體細節進行分析----確認各引腳的情況。

 

工程師對不良芯片進行I-V曲線測試,以確定各引腳的阻值差異及異常與否,但檢測發現多處引腳有短路的情況,I-V曲線呈現如下圖所示。

 

 燒錄2.png

 

 

至此,可以肯定不良芯片內部一定有損毀。為了一窺究竟,工程師進行開蓋查驗,發現其內部有多處燒毀,且能明顯看到有變色,拉弧,燒熔的痕跡。如下圖:

 

 燒錄3.png

 

 燒錄4.png

 

 

結合以上測試的結果電氣工程師得出結論:產品短路呈現燒毀形貌是由于EOS導致產品失效。

 

創芯檢測中心友情提示:

 

EOS(全稱:Electrical Over Stress,中文:過度電性應力),是指當電子器件承受超過該器件規定限值的電流或電壓時,大量的熱能使元件器內部溫度過高,從而導致構成元件器的材料損壞(常說的燒壞),也是常見損壞元器件的原因之一。

 

EOS是元器件失效原因中較為常見的一種,而導致其發生的因素也是非常的多,諸如電源干擾、測試程式切換導致的干擾、測試設計的缺陷、不恰當的操作流程等都能夠引發EOS。

 

那么該如何最大程度規避EOS呢?拋開不可控制的非人為因素,需在電路設計、工作流程等方面仔細考慮,以降低整體風險。

 

除了EOS外,還需要留意ESD(全稱:Electro-Static discharge,中文:靜電釋放)。靜電是一種常見的自然現象,但在“溫和”的表象之下,靜電瞬間可產生極高的電流和電壓,足以毀壞元器件。

 

因此,在實際操作中,靜電防護也是必不可少的。根據不同的情況,人體防護靜電可采用防護服、防護手套、防護指套等,此外控制操作空間的濕度至合理范圍也是必要的,以免過干的環境所產生的靜電。

 

以上就是此次案例的分析情況,希望這個案例可以幫助到更多的工程師小伙伴們。如您有什么疑問或檢測方面的需求,歡迎隨時聯系我們。


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